CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質(zhì)量而設(shè)計、開發(fā)的一種專用光學(xué)儀器，與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖進(jìn)行對比，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，對比直觀，操作簡單，效率高，是理化試驗室的必備專用設(shè)備。

《金屬夏比沖擊試驗方法》該標(biāo)準(zhǔn)對試樣要求相當(dāng)嚴(yán)格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是否合格會直接影響**終的試驗結(jié)果。如果試樣加工質(zhì)量不合格，那么其試驗結(jié)果是不可信的，特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗結(jié)果的巨大陡跳，尤其是在試驗的臨界值時，會引起產(chǎn)品的合格或報廢兩種截然相反的不同結(jié)局。為保證試樣缺口的合格，其質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段，目前，用光學(xué)投影放大檢驗是**切實可行的方法。

XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和GB/T299-1994《金屬夏比沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種專用于檢驗夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比，以確定被檢測的試樣缺口是否合格。其**點是操作簡便，對比直觀。

二、工作原理：

本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。

根據(jù)需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上，再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方位一致。

三、主要參數(shù)：